english version

Лаборатория электронной спектроскопии

Зондовая сканирующая Оже микроскопия (ASPM) - разновидность сканирующей электронной микроскопии, основанная на эффекте ОЖЕ - (излучение достаточно высокой энергии может «выбить» электрон с одной из внутренних оболочек атома). Получающееся состояние неустойчиво, вакансия заполняется переходом электрона с одной из внешних оболочек. Выделяющаяся при этом энергия может быть передана третьему электрону (Оже-электрону), который покидает атом. Метод очень чувствителен к состоянию поверхности образца, более информативен при составлении карт распределения легких элементов (что затруднительно при использовании рентгеновских методов). Обеспечивает очень высокое поперечное разрешение (локальность) изображения. Благодаря использованию ионной пушки, позволяет получать качественные изображения объектов, накапливающих статический заряд. Позволяет исследовать приповерхностные (до 6-8 нм) слои образца.

Оборудование: Оже-микрозонд Jeol JAMP-9500F

По вопросам проведения исследований обращаться по телефону +7 (843) 227-42-42

КАЛЕНДАРЬ СОБЫТИЙ

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, пользовательских данных (сведения о местоположении; тип и версия ОС; тип и версия Браузера; тип устройства и разрешение его экрана; источник откуда пришел на сайт пользователь; с какого сайта или по какой рекламе; язык ОС и Браузера; какие страницы открывает и на какие кнопки нажимает пользователь; ip-адрес) в целях функционирования сайта, проведения ретаргетинга и проведения статистических исследований и обзоров. В случае отказа от обработки персональных данных я проинформирован о необходимости прекратить использование сайта или отключить файлы cookie в настройках браузера.
OK